對(duì)于機(jī)械密封系統(tǒng)而言,超聲波檢漏儀可能發(fā)生的故障難以窮盡,建樹過程中,如果把所有因素都考慮進(jìn)去,勢(shì)必使樹的結(jié)構(gòu)極為復(fù)雜,難以找到真正的焦點(diǎn),比如有些部件的失效率極低,與可靠性差的部件相比幾乎可以忽略它們對(duì)分析結(jié)果的影響。為獲得一個(gè)實(shí)際工作條件下雨主要邏輯關(guān)系等效的系統(tǒng)故障樹,要對(duì)邊界條件作一定的假設(shè):(1)忽略軸套腐蝕穿孔對(duì)機(jī)械密封泄漏失效的影響。(2)靜環(huán)座壓蓋與設(shè)備之間密封墊片失效率為零。(3)不考慮動(dòng)、靜環(huán)輔助密封圈材料的孔隙滲漏。超聲波檢漏儀(4)機(jī)械密封裝配無故障。(5)機(jī)械密封動(dòng)、靜環(huán)支座不存在應(yīng)力腐蝕、電解腐蝕、晶間腐蝕、表面腐蝕以及變形。(6)動(dòng)環(huán)輔助密封圈與軸套間的微動(dòng)磨損不計(jì)。(7)設(shè)備與基礎(chǔ)連接牢靠。(3)故障樹的建立 頂事件確定后,尋找引起頂事件發(fā)生的*直接的、必要的、充分的原因。經(jīng)仔細(xì)分析,引起“機(jī)械密封泄漏失效”發(fā)生的原因表現(xiàn)為動(dòng)、靜環(huán)輔助密封泄漏和動(dòng)、靜環(huán)之間的密封面泄漏。超聲波檢漏儀這兩種情形的出現(xiàn),都會(huì)引起機(jī)械密封泄漏失效事故的發(fā)生。將引起頂事件發(fā)生的各原因分別看作二級(jí)頂事件,采用類似地方法繼續(xù)尋找引起二級(jí)頂事件發(fā)生的*直接的、必要的、充分的原因
想了解更多關(guān)于超聲波檢漏儀,歡迎請(qǐng)點(diǎn)擊:http://dhqch.cn/s04/kim-mac/cpxx/20120808/15204487.html
分享到: QQ空間 新浪微博 騰訊微博 人人網(wǎng) 開心網(wǎng) 復(fù)制網(wǎng)址 百度貼吧 百度空間 更多
國內(nèi)咨詢專線:400-628-9668 郵箱:kim@kmpdm.com
KM中國公司總部: 昆山祺邁測(cè)控設(shè)備有限公司 江蘇省昆山市前進(jìn)東路579號(hào)(郵編215334) 電話:+86 512 5033 3915 傳真:+86 512 5033 3916
Hotline:400-628-9668 E-Mail:kim@kmpdm.com
KM China Headquarters: KunShan Kim-Mac Measurement and Control Equipment Co.,Ltd Add: No.579,QianJin East Road,KunShan,JiangSu 215334, China Phone: +86 512 5033 3915 Fax: +86 512 5033 3916
蘇公網(wǎng)安備 32058302001683號(hào)